日本作物学会講演会要旨集
第222回日本作物学会講演会
会議情報

主催: 日本作物学会

品質
非破壊型検査手法を用いた米の鮮度評価技術開発
第1報　紫外線励起蛍光画像法による米の鮮度評価手法の開発
*浅野目 謙之, 八谷 満, 後藤 恒義
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キーワード: 稲, 鮮度, 非破壊検査
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p. 118

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