水酸化第二鉄による希薄As(V)の共沈機構について、収着等温線の作成、ゼータ電位測定、XRD測定およびXAFS測定によって多面的に考察を行った。初期As/Fe>0.4の範囲において、ヒ酸鉄の飽和度には達していないものの、非晶質ヒ酸鉄を主成分とする表面沈殿が生成することがわかった。EXAFSによる考察により、初期As/Feモル比が増加するにつれて、単核二座錯体が増加し、逆に二核二座錯体が減少して、徐々に表面錯体構造から沈殿構造へと推移することがわかった。