化学工学会　研究発表講演要旨集
化学工学会第38回秋季大会
セッションID: F221
会議情報

主催: 社団法人　化学工学会

シンポジウム ＜粒子・粉体プロセスシンポジウム＞
AFMを用いた微粒子の電場中における接触帯電の解析
*田子 裕之, 佐倉 義朗, 伊藤 泰大, 丸山 博之, 増田 弘昭
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キーワード: Atomic Force Microscope, Contact Electrification, Electric Potential
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© 2006 社団法人　化学工学会
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